IOTE2022經(jīng)過幾次艱難的delay之后，終于于11月15日-17日在深圳國際會展中心17號館成功舉辦。深圳市唐領(lǐng)科技有限公司作為深圳物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)協(xié)會作為協(xié)會創(chuàng)始會員當(dāng)然也不會錯過此次盛會，唐領(lǐng)一如既往的展出了CISC傳統(tǒng)的RAIN RFID測試儀、NFC測試儀及RAIN RFID Inline設(shè)備，也推出了用于快速檢測讀寫設(shè)備的CISC新品Reader checker以最低的成本讓讀寫器制造商了解其產(chǎn)品靈敏度，讓系統(tǒng)集成商迅速找出問題所在。

本次展會還有一大特點就是國產(chǎn)RFID標(biāo)簽和讀寫器芯片廠商的新產(chǎn)品層出不窮，大大加快了RFID領(lǐng)域芯片國產(chǎn)化的步伐。跟隨著這個步伐，唐領(lǐng)攜CISC的產(chǎn)品也為RFID芯片設(shè)計廠商提供了有效而完整的芯片測試方案RAIN RFID Xplorer。

標(biāo)簽芯片測試方案

CISC的RAIN RFID Xplorer在芯片測試這塊涵蓋了靈敏度和協(xié)議層的測試。靈敏度測試可根據(jù)需求進行接觸（無天線）及非接觸（帶天線）的測量方法，讓芯片設(shè)計廠商更了解自己的產(chǎn)品在不同條件下的特性。RAIN RFID Xplorer獨具特色的參數(shù)設(shè)置是更多芯片廠商真正所需要的，如調(diào)制、時序、指令等的設(shè)置，這些設(shè)置都是在驗證芯片在不同條件下的性能特點，可以進一步完善芯片的設(shè)計，同時自定義指令及序列有助于調(diào)試特殊的協(xié)議規(guī)范標(biāo)簽芯片性能。

對于協(xié)議層面的符合規(guī)范測試，RAIN RFID Xplorer提供了兩個選擇，一個作為單點調(diào)試的Conformance軟件，他可以分析每個標(biāo)簽指令或相應(yīng)的內(nèi)容、時序、功率、BLF及占空比等物理特性。

另一個是自動化G2V2規(guī)范測試軟件涵蓋了G2V2里規(guī)定的所有測試項目，生成測試報告，能迅速的讓標(biāo)簽芯片廠商評估其產(chǎn)品與G2V2的符合度，如有不符合的項目可用conformance測試軟件進行深入調(diào)試和研究。

對于標(biāo)簽芯片的性能及規(guī)范測試，RAIN RFID Xplorer可以稱得上是業(yè)內(nèi)最完整最緊湊的測試方案。

讀寫器芯片測試方案

同樣是RAIN RFID Xplorer還可以進行讀寫器芯片的靈敏度及規(guī)范驗證。作為讀寫器芯片靈敏度的穩(wěn)定性是非常的重要，Xplorer可以用接觸式的標(biāo)簽仿真模塊來檢測來自讀寫器芯片評估板的信號，同時通過Tx、BLF的變化觀測靈敏度的變化，并可模擬天線的相位和阻抗變化來了解芯片靈敏度的匹配度。標(biāo)簽仿真模塊還可以設(shè)置不同的配置，如接收Tari、RTcal，響應(yīng)T1、BLF offset等，更大程度模擬不同的標(biāo)簽特點。

當(dāng)然讀寫器芯片當(dāng)然也少不了協(xié)議符合度的測試，同樣遵循G2V2的需要RAIN RFID Xplorer設(shè)計了一個自動化的讀寫器協(xié)議符合度測試軟件，自動對Link時序、RF包絡(luò)和物理性能進行測試比對。獲取pass、failed的信息后，可通過Sniffer分析軟件對讀寫器協(xié)議及規(guī)范進行詳細的參數(shù)分析，從而改善相關(guān)的設(shè)計問題。

無論RFID標(biāo)簽還是讀寫器其核心均在芯片，CISC在支持Impinj、NXP、ST等國際芯片大廠的芯片設(shè)計驗證的同時，也希望為中國國產(chǎn)芯片的崛起添磚加瓦，讓國產(chǎn)RFID芯片在測試和驗證之路上走的更加順暢。當(dāng)然CISC近年產(chǎn)品也是推陳出新，緊跟潮流推出NFC無線充電方案、現(xiàn)場RFID分析工具等創(chuàng)新產(chǎn)品，讓IOT領(lǐng)域應(yīng)用眼前一亮。